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期刊文章详细信息

基于RT器件的三值与非门、或非门电路设计  ( EI收录)  

A Design for Triple-Valued NAND and NOR Gates Based on Resonant Tunneling Devices

  

文献类型:期刊文章

作  者:林弥[1] 吕伟锋[1] 孙玲玲[1]

机构地区:[1]杭州电子科技大学电子信息学院

出  处:《Journal of Semiconductors》

年  份:2007

卷  号:28

期  号:12

起止页码:1983-1987

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EBSCO、EI、IC、INSPEC、JST、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:共振隧穿(resonant tunnel,RT)器件本身所具有的微分负阻(negative differential resistance,NDR)特性使其成为天然的多值器件.文中利用RT器件的负阻特性,以开关序列原理为指导,设计了基于RT电路的开关模型,实现了更为简单的三值RT与非门和或非门电路,并利用MOS网络模型,通过SPICE软件仿真验证了所设计电路的正确性.该设计思想可推广到更高值的多值电路设计中.

关 键 词:RT器件  多值逻辑 开关序列 与非门 或非门

分 类 号:TN79]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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