文献类型：期刊文章

作　　者：黎晖[1] 魏光辉[1] 刘掬[2]

机构地区：[1]军械工程学院静电与电磁防护研究所,河北石家庄050003 [2]北京军事代表局驻石家庄地区军代室,河北石家庄050003

出　　处：《仪表技术与传感器》

年　　份：2007

期　　号：11

起止页码：11-12

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、IC、INSPEC、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：静电衰减时间常数是定量描述材料静电性能的重要物理量,可以通过测量静电电荷衰减时间达到测量静电的目的。在对现有静电测试方法以及各类静电衰减测试仪研究的基础上,基于单片机原理设计出多功能电荷衰减测试仪,它集充电法、电晕喷电法、摩擦法测试功能为一体,弥补了现有静电衰减测试仪功能单一的不足,利用单片机本身的定时计数功能得到精确的静电电荷衰减时间。

关 键 词：单片机 衰减时间  计时  测试方式  仪器

分 类 号：TP368.1] TP216[计算机类]