文献类型：期刊文章

作　　者：李登峰[1,2] 肖海燕[1] 祖小涛[1] 董会宁[2]

机构地区：[1]电子科技大学物理电子学院应用物理系,四川成都610054 [2]重庆邮电大学光电工程学院应用物理研究所,重庆400065

出　　处：《功能材料》

年　　份：2007

卷　　号：38

期　　号：A07

起止页码：2796-2799

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：用第一性原理的自旋密度泛函理论计算了Sn和Pb吸附在Ni（111）（√3×√3）R30°表面的几何构型和功函变化。能量计算表明Sn和Pb吸附在（111）（√3×√3）R30°表面形成的最稳定相均是替代吸附，并不存在类似于Sb吸附于Cu（111）（√3×√3）R30°和Ag（111）（√3×√3）R30°。表面时形成的层错现象，验证了以前的实验结果。对于Sn和Pb吸附在Ni（111）（√3×√3）R30°表面形成的最稳定表面合金相，表面弛豫效应都不明显，皱褶幅度分别为0．0548和0．0987nm，都比硬球模型所预言的小，表明Sn-Ni和Pb-Ni金属键含有大量的共价键成分。计算所得的几何参数与实验符合得很好。Sn和Pb在Ni（111）（√3×√3）R30°表面吸附前后的功函变化值分别为0．38和0．433eV，表示电荷均从底物移向吸附物。

关 键 词：密度泛函理论 表面合金 锡化镍  铅化镍  层错 功函变化  

分 类 号：O647.31]