文献类型：期刊文章

作　　者：金天雄[1] 黄兴溢[1] 江平开[1] 仲含芳[1] 金义天[2]

机构地区：[1]上海市电气绝缘与热老化重点实验室,上海200240 [2]朝鲜金策工业综合大学电气工程系

出　　处：《绝缘材料》

基　　金：上海重大科技攻关项目资助(045211024)

年　　份：2007

卷　　号：40

期　　号：5

起止页码：45-48

语　　种：中文

收录情况：CAS、CSA、JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：热老化过程不但会影响交联聚乙烯电缆绝缘的电磁学和物理化学性能,还对绝缘内水树的产生与生长有着一定的影响。通过研究热老化过程对XLPE电缆绝缘中的水树现象的影响,以及在几个有可能的影响因素当中,哪个因素对水树现象的影响最大。实验结果表明,在与XLPE电缆绝缘的热老化有关的各种因素对水树现象的影响中,热氧化对XLPE电缆绝缘表层水树的产生和生长的影响最大。尽管热氧化所引起的缺陷有可能就是XLPE电缆绝缘中水树生长过程中的起始点,但是它在一定程度上抑制着水树的成长,甚至有着"水树延迟效果"的美称。

关 键 词：交联聚乙烯(XLPE)  热老化 热氧化 水树

分 类 号：TM201.4[材料类] TM247.4]