文献类型：期刊文章

作　　者：许川佩[1] 王征[1] 李智[1]

机构地区：[1]桂林电子科技大学电子工程学院

出　　处：《仪器仪表学报》

基　　金：国家自然科学基金(60266001;60766001);广西自然科学基金(桂科自10542051)资助项目

年　　份：2007

卷　　号：28

期　　号：10

起止页码：1792-1799

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20074510910275)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：本文针对SoC测试结构的特点,采用多进制的编码方式,建立改进的量子进化算法数学模型。通过选取合适的模型参数,以缩短测试时间为目标,完成对群体的观测,确定IP核在测试访问机制上的分配以及当前群体中的最佳个体,实现基于量子进化算法的片上系统芯片的测试结构优化。针对国际标准片上系统芯片验证表明,量子进化算法可应用于多扫描链IP核构成的包含多条TAM的SoC测试,与同类算法相比,该算法能够获得较短的测试时间。

关 键 词：量子进化算法 测试结构  SOC

分 类 号：TN47]