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高能重离子辐射诱导水稻半矮生突变株系的RFLP分析
RFLP ANALYSIS OF RICE SEMIDWARF MUTATION INDUCED BY HIGH ENERGY ARGON ION RADIATION
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]华南农业大学遗传工程研究室
年 份:1997
卷 号:11
期 号:2
起止页码:74-78
语 种:中文
收录情况:CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊
摘 要:本文用限制性内切酶片段长度多态性(RFLP)分析技术,选用97个已定位的水稻基因组随机克隆为探针,分析了广东地方品种边皮占、香占及其种子经高能氩离子辐照后诱导产生的稳定半矮生突变株系Ar10和氩香1号在DNA水平上的变异。结果表明,边皮占和Ar10之间位点变异率为515%;香占和氩香1号之间位点变异率为639%。研究显示,高能重离子辐射诱导的变异主要是DNA分子较大的改变,而非点突变。用Ar10与边皮占杂交获得的F2群体对Ar10的半矮生位点的遗传和定位分析表明,此性状受1个隐性位点控制。
关 键 词:水稻 半矮生突变体 高能重离子 辐射育种
分 类 号:S511.035.2] S124.1
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