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期刊文章详细信息

工作气压对磁控溅射ITO薄膜性能的影响  ( EI收录)  

Effects of Sputtering Pressure on the Properties of Indium Tin Oxide

  

文献类型:期刊文章

作  者:任丙彦[1] 刘晓平[1] 李彦林[1] 王敏花[1] 羊建坤[1] 许颖[2]

机构地区:[1]河北工业大学信息功能材料研究所,天津300310 [2]北京太阳能研究所,北京100083

出  处:《人工晶体学报》

基  金:河北省自然科学基金项目(No.F2005000073)

年  份:2007

卷  号:36

期  号:4

起止页码:798-801

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20073910835045)、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:工作气压在ITO薄膜的制备过程中是一个重要的工艺参数,直接决定着薄膜的性能。本文利用射频磁控溅射方法,采用氧化铟锡陶瓷靶材,在衬底温度为175℃,工作气压范围为0.45-1.0 Pa条件下,制备了氧化铟锡透明导电薄膜。研究了工作气压对其微观结构、表面形貌和光电特性的影响。在衬底温度为175℃、纯氩气中制备的氧化铟锡薄膜电阻率为3.04×10^-4Ω.cm、可见光波段(400-800 nm)透过率为91.9%,适合用作异质结太阳电池的前电极和减反射膜。

关 键 词:磁控溅射 ITO薄膜 溅射气压 低温  

分 类 号:O484.1]

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