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期刊文章详细信息

偏压对多弧离子镀TiN膜层的影响  ( EI收录)  

  

文献类型:期刊文章

作  者:辛煜[1] 范叔平[1] 宁兆元[1] 杨礼富[1] 薛青[2] 金宗明[2]

机构地区:[1]苏州大学薄膜材料实验室 [2]苏州大学测试中心

出  处:《表面技术》

年  份:1997

卷  号:26

期  号:1

起止页码:8-10

语  种:中文

收录情况:CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EI、JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:主要运用多弧离子镀技术研究了偏压对不锈钢基片上镀制的TiN膜层的影响,运用扫描电子显微镜(SEM),X-射线衍射仪(XRD)和附着力测定仪研究了膜表面的钛滴、针孔、膜的取向和临界载荷等性能。结果表明:低偏压下膜表面的针孔密度较小,高偏压下钛滴趋于细化。划痕试验表明:在150~200V偏压下膜层的临界载荷最佳。

关 键 词:多弧离子镀 喷镀 氮化钛 离子镀 镀膜  偏压

分 类 号:TG174.442]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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