登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

基于PIC单片机控制的RLC智能测量仪    

Design of RLC Measuring Machine Based on PIC

  

文献类型:期刊文章

作  者:杨继生[1] 刘芬[2]

机构地区:[1]天津第五机床厂,天津300222 [2]天津工程师范学院,天津300222

出  处:《现代电子技术》

年  份:2007

卷  号:30

期  号:15

起止页码:131-132

语  种:中文

收录情况:IC、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:为了精确测量分立元件的参数,介绍了一种由PIC单片机控制的RLC智能测量仪。该测量仪利用PIC单片机内置的A/D转换模块对信号进行采样,并采用正交采样算法对数据进行处理从而得出待测元件的参数值。测量结果表明,他具有较高的精度和分辨率,可广泛应用于对元器件参数进行精确测量与分选。与传统的仪表相比,该测量仪还具有智能识别、量程自动转换、在线测量等优点,因此他具有重要的实用价值。

关 键 词:正交采样 智能识别  在线测量  量程自动转换

分 类 号:TP29]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心