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期刊文章详细信息

用表面粗化ITO的欧姆接触提高GaN基LED性能(英文)    

Improvement of GaN-based Light-emitting Diodes Using Surface-textured Indium-tin-oxide Transparent Ohmic Contacts

  

文献类型:期刊文章

作  者:姚雨[1] 靳彩霞[1] 董志江[2] 孙卓[1] 黄素梅[1]

机构地区:[1]华东师范大学纳光电集成与先进装备教育部工程研究中心,上海200062 [2]武汉迪源光电科技有限公司,湖北武汉430074

出  处:《液晶与显示》

基  金:Supported by Foundations of Pujiang Talented Person Plans(No.05PJ14037);Nanotechnology of Shanghai Municipal Science & Technology Committee(No.0552nm042);Shanghai-Applied Materials Research and Development fund(No.0519)

年  份:2007

卷  号:22

期  号:3

起止页码:273-277

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EBSCO、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:应用ICP干法刻蚀工艺和自然光刻技术,制备了ITO表面粗化的GaN基LED芯片。聚苯乙烯纳米颗粒在干法刻蚀中作为刻蚀掩膜。通过扫描电镜(SEM)观察ITO薄膜的粗糙度,并且报道了优化的粗化工艺参数。结果表明,ITO表面粗化的GaN基LED芯片同传统的表面光滑的芯片相比在20 mA的驱动电流下,发光强度提高了70%。

关 键 词:GAN基发光二极管 铟锡氧化物 表面粗化 自然光刻  

分 类 号:TN312.8]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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