期刊文章详细信息
用表面粗化ITO的欧姆接触提高GaN基LED性能(英文)
Improvement of GaN-based Light-emitting Diodes Using Surface-textured Indium-tin-oxide Transparent Ohmic Contacts
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]华东师范大学纳光电集成与先进装备教育部工程研究中心,上海200062 [2]武汉迪源光电科技有限公司,湖北武汉430074
基 金:Supported by Foundations of Pujiang Talented Person Plans(No.05PJ14037);Nanotechnology of Shanghai Municipal Science & Technology Committee(No.0552nm042);Shanghai-Applied Materials Research and Development fund(No.0519)
年 份:2007
卷 号:22
期 号:3
起止页码:273-277
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EBSCO、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:应用ICP干法刻蚀工艺和自然光刻技术,制备了ITO表面粗化的GaN基LED芯片。聚苯乙烯纳米颗粒在干法刻蚀中作为刻蚀掩膜。通过扫描电镜(SEM)观察ITO薄膜的粗糙度,并且报道了优化的粗化工艺参数。结果表明,ITO表面粗化的GaN基LED芯片同传统的表面光滑的芯片相比在20 mA的驱动电流下,发光强度提高了70%。
关 键 词:GAN基发光二极管 铟锡氧化物 表面粗化 自然光刻
分 类 号:TN312.8]
参考文献:
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同被引文献:
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