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利用公用背底法提高X射线应力分析效率
On the Common Background Method for X-ray Stress Measurement
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]沈阳材料科学国家(联合)实验室,沈阳110016
年 份：2007
卷 号：29
期 号：4
起止页码：185-188
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX2004、ZGKJHX、核心刊
摘 要：为了提高X射线应力分析的效率,提出了公用背底法对衍射线进行背底扣除。并利用模拟衍射线考察了对于不同峰形的衍射线、公用背底法对残余应力值的影响以及合理的背底取值范围。结果表明,对于峰背比较大的衍射线,公用背底法扣除背底对应力值没有影响,可用来进行应力测定;而对于峰背比较小的衍射线,不适合采用公用背底法扣除背底。利用公用背底法进行应力测定,可以大幅度缩减扫描范围,提高测定效率。
关 键 词：模拟衍射线 残余应力 公用背底法 应力测定 半高宽 峰位角
分 类 号：TG115.222.2]
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