登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

基于小波分析和克隆选择算法的模拟电路故障诊断  ( EI收录)  

Fault Diagnosis of Analog Circuit Based on Wavelet Analysis and Clonal Selection Algorithm

  

文献类型:期刊文章

作  者:彭良玉[1] 禹旺兵[1]

机构地区:[1]湖南师范大学物理与信息科学学院

出  处:《电工技术学报》

基  金:湖南省自然科学基金项目(06JJ50117);湖南省教育厅科研项目(05C404)。

年  份:2007

卷  号:22

期  号:6

起止页码:12-16

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2004、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20073010707124)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:提出一种基于人工免疫系统的模拟电路故障诊断新方法。该方法首先对电路输出节点的电压信号进行小波分解,提取各频段的能量作为故障样本;然后利用人工免疫算法对每类故障的故障样本进行自学习,得到该类故障的最优聚类中心;最后计算故障样本和学习得到的聚类中心的距离对电路故障样本进行分类,从而实现故障元件定位。计算机仿真实验结果表明,该方法对容差模拟电路故障定位具有较高的准确率。

关 键 词:人工免疫系统 克隆选择算法 小波分析 模拟电路 故障诊断

分 类 号:TP277]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心