登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

集成电路电磁骚扰测试方法    

Electromagnetic Emission Test Method of Integrated Circuits

  

文献类型:期刊文章

作  者:王敏良[1] 孔德海[1]

机构地区:[1]江苏省电子产品监督检验所

出  处:《安全与电磁兼容》

年  份:2007

期  号:1

起止页码:12-14

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:分析了高频数字集成电路产生电磁发射的原因及其电磁发射的测量原理,简要说明了集成电路电磁骚扰的几种测试方法及其理论依据,介绍了法拉第笼法与磁场探头法的测试系统及其在产品设计方面的应用前景。

关 键 词:集成电路 电磁兼容 测试  

分 类 号:TM937] TN407]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心