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期刊文章详细信息

高分辨等离子体质谱法测定高纯二氧化钛中痕量杂质  ( EI收录 SCI收录)  

Determination of Trace Impurities in High Purity Titanium Dioxide by High Resolution Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry

  

文献类型:期刊文章

作  者:何晓梅[1] 谢华林[1] 聂西度[1] 唐有根[2]

机构地区:[1]湖南工学院化工系,湖南衡阳421008 [2]中南大学化学化工学院应化系,湖南长沙410083

出  处:《光谱学与光谱分析》

基  金:湖南省"十一五"技术创新重点项目

年  份:2007

卷  号:27

期  号:6

起止页码:1192-1196

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20073110727352)、IC、INSPEC、JST、PUBMED、RCCSE、RSC、SCI(收录号:WOS:000248013200040)、SCI-EXPANDED(收录号:WOS:000248013200040)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:采用高分辨电感耦合等离子体质谱(HR-ICP-MS)法同时测定高纯二氧化钛中26种杂质元素。样品用硫酸铵和浓硫酸分解后,在高分辨质谱测量模式下避免了大量的质谱干扰。详细地研究了高浓度钛和硫酸的基体效应,讨论和确定了实验的最佳测定条件,应用标准加入法进行定量分析。结果表明,方法的检出限为0·004~0·63μg·g-1,回收率为87·6%~106·4%,相对标准偏差(RSD)小于3·5%。方法准确、快速、简便,应用于高纯二氧化钛中杂质元素的测定,满意结果。

关 键 词:高分辨电感耦合等离子体质谱 高纯二氧化钛  杂质元素  基体效应  标准加入法

分 类 号:O657.6]

参考文献:

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同被引文献:

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