期刊文章详细信息
高分辨率TDR测试以及应用
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]泰克科技中国有限公司
年 份：2007
卷 号：14
期 号：4
起止页码：92-92
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：TDR（Time Domain Reflectometry）是一种通用的时域测试技术，广泛应用于PCB、电缆、连接器等领域。随着TDR设备性能的不断提高，对被测试器件不连续阻抗点的距离分辨率也越来越高。TDR逐渐进入IC芯片的失效分析（FA）以及电路模型提取领域。本文结合TDR设备的基本原理对高分辨率TDR设备及其应用进行了探讨。
关 键 词：TDR测试 高分辨率 应用 DOMAIN 距离分辨率 测试技术 电路模型 失效分析
分 类 号：TN420.7]
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