文献类型：期刊文章

作　　者：高敏[1] 刘伟[1] 杨军涛[2] 张树霖[1] 郭辉[3] 张国义[1]

机构地区：[1]北京大学物理学院,北京100871 [2]Renishaw公司 [3]北京大学信息科学技术学院,北京100871

出　　处：《光谱学与光谱分析》

基　　金：国家自然科学基金重大基金项目(60290083);国家自然科学基金重点基金项目(50334040);国家自然科学基金面上基金项目(50272017);红外物理国家重点实验室开放课题基金项目资助;北京市纳米光电子重点实验室开放课题基金项目资助

年　　份：2007

卷　　号：27

期　　号：5

起止页码：928-931

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20072510663913)、IC、INSPEC、JST、PUBMED、RCCSE、RSC、SCI(收录号：WOS:000247088600024)、SCI-EXPANDED(收录号：WOS:000247088600024)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：X射线衍射谱和拉曼光谱均证实所用的SiC和GaN样品为不纯的非晶样品。通过新采取的减去经加权的“杂质”光谱的方法,从不纯的非晶样品的拉曼光谱中获取了纯非晶SiC和GaN的拉曼光谱,并由理论计算的声子态密度与减去“杂质”光谱的拉曼光谱很好相符,进一步证实减去“杂质”光谱的拉曼光谱确实是非晶拉曼光谱,从而表明新采用的扣除加权“杂质”光谱的方法是正确和具有广泛应用价值的。

关 键 词：拉曼光谱 非晶GaN  非晶SiC  声子态密度  

分 类 号：O433.4] O657.3]