期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]辽宁师范大学物理与电子技术学院,大连116029 [2]辽宁师范大学分析测试中心,大连116029
年 份:2007
卷 号:30
期 号:5
起止页码:438-441
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:给出了高纯锗(HPGe)γ探测器面源效率随高度变化的经验函数,并提出了利用体标准源和遗传算法确定面源效率函数参数的方法。对已知双层模拟样品中的^(226)Ra、^(232)Th和^(40)K进行了分析,结果与已知数据吻合,表明利用面源效率函数对其中放射性核素为一维非均匀分布的样品进行非破坏性分析是可行的。
关 键 词:高纯锗γ 探测器 面源效率 遗传算法 γ 能谱分析
分 类 号:TL817.2]
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