文献类型：期刊文章

作　　者：刘云杰[1] 郝兰众[1] 李燕[2] 邓宏[2]

机构地区：[1]中国石油大学(华东)物理科学与技术学院材料物理系,东营257061 [2]电子科技大学微电子与固体电子学院材料物理与化学系,成都610054

出　　处：《材料导报》

基　　金：国家973基础研究基金资助项目(51310z);山东省自然科学基金资助项目(O2006A09)

年　　份：2007

卷　　号：21

期　　号：4

起止页码：155-156

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、UPD、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：X射线衍射技术分析发现,通过生长一层较厚的LaAlO3顶层结构,可以把LaAlO3-BaTiO3超晶格中界面处的应变有效地控制在薄膜中,从而增加超晶格薄膜的平均面外晶格常数c。电学性能测试证明LaAlO3顶层结构的存在极大地改善了超晶格薄膜的电学性能,使其剩余极化强度增加了40多倍。

关 键 词：超晶格 应变  X射线衍射 剩余极化强度  

分 类 号：TB43]