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微波暗室中两种RCS测量系统的比较
Comparison Between Two Kinds of RCS Measurement Systems in Microwave Anechoic Chamber
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]西北工业大学国防科技研究院 [2]中国人民解放军93861部队
年 份：2007
卷 号：15
期 号：3
起止页码：300-301
语 种：中文
收录情况：CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、ZGKJHX、普通刊
摘 要：目标散射截面的测量对雷达目标识别、微波成像等研究领域都至关重要;在分析目标RCS测量原理的基础上,对暗室中RCS测量的两种方法——连续波测试体制和扫频测试体制进行了比较,给出了具体测量步骤,并通过实际测试进行了结果比对,最后说明了两种方法的使用范围。
关 键 词：雷达截面积 微波暗室 测量精度
分 类 号：TN95]
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