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期刊文章详细信息

电子设备热分析、热设计及热测试技术综述及最新进展    

A Review of Thermal Analysis,Thermal Design and Thermal Test Technology and Their Recent Development

  

文献类型:期刊文章

作  者:吕永超[1] 杨双根[1]

机构地区:[1]中国电子科技集团公司第38研究所,安徽合肥230031

出  处:《电子机械工程》

年  份:2007

卷  号:23

期  号:1

起止页码:5-10

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:随着电子技术的迅猛发展,电子设备过热问题愈显突出。文中阐述了电子设备冷却设计的常用手段及其最新的进展情况。

关 键 词:电子设备冷却  电子设备热技术  热分析 热设计 热测试

分 类 号:TK124] TN06]

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同被引文献:

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