文献类型：期刊文章

作　　者：徐政[1] 谢涛[2] 卢寿慈[3] 沈志刚[1]

机构地区：[1]北京航空航天大学粉体技术重点实验室,北京100083 [2]北京化工大学环境工程系,北京100029 [3]北京科技大学土木与环境工程学院,北京100083

出　　处：《过程工程学报》

年　　份：2007

卷　　号：7

期　　号：1

起止页码：105-109

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20071510533842)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为了达到对粉体的精确分级,以满足制备粉体过程中越来越严格的粒度控制要求,采用静电分级的方法,即给颗粒带上静电,并使其在静电场中根据颗粒带电的不同而分级,并以此方法为基础研制了一种静电分级设备.实验测得粒径在75μm以下的铜粉的荷质比极大值为-14.8nC/g,W10,W20,W40SiC(粒径分别为10,20,40μm)粉体的荷质比的极大值分别为-90.6,-43.2,-50.7nC/g.可以明显看出铜粉的分级效果.碳化硅粉体II细粉大于25μm的累积质量分数从原料的3.77%下降到细粉的2.39%,碳化硅粉体III细粉大于25μm的累积质量分数从原料的1.80%下降到细粉的0.93%.结果表明,静电分级是一种具有发展前景的分级方法.

关 键 词：粉体 静电 分级  分散  碳化硅

分 类 号：TB43]