登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

适用于VLSI工艺的多功能二维离子注入模拟器FUTIS  ( EI收录)  

The Multi-Function 2D Ion Implantation Simulator-FUTIS for VLSI Processes

  

文献类型:期刊文章

作  者:徐晨曦[1] 阮刚[1]

机构地区:[1]复旦大学微电子学研究所

出  处:《电子学报》

基  金:国家自然科学基金

年  份:1990

卷  号:18

期  号:6

起止页码:14-19

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX1992、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:本文改进和发展了硅中二维离子注入、离子注入退火及高剂量氧注入分布模型;处理了多次注入、多层掩蔽、多种材料掩蔽及多种掩模边缘;在此基础上给出了适用于VLSI工艺的多功能、实用化二维离子注入模拟器FUTIS。通过与其它工艺模型、模拟器及实验比较,表明FUTIS在精度上有明显改进,在功能上有很大扩展,是一种能适应当今VLSI工艺发展要求的先进的离子注入模拟器。

关 键 词:VLSI FUTIS  离子注入 模拟器

分 类 号:TN470.53]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心