期刊文章详细信息
一起363kVGIS充电闪络故障的原因分析 ( EI收录)
Analysis of 363kV Gas Insulated Switchgear Charging Flashover Fault
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]青海电力试验研究所,青海西宁810008
年 份：2007
卷 号：43
期 号：1
起止页码：74-76
语 种：中文
收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EI(收录号：20071310515147)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：分析了一起363kVGIS充电时闪络故障的原因,提出了GIS交接试验中做交流耐压试验的同时应进行局部放电的测量,并在条件许可的情况下进行操作冲击电压试验,以避免如绝缘子伤痕和裂痕、自由微粒、悬浮电位和异物遗留在GIS内部等原因而造成GIS故障。
关 键 词：全封闭组合电器 充电 闪络 故障
分 类 号：TM59]
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