文献类型：期刊文章

作　　者：张敏[1] 何桢[1]

机构地区：[1]天津大学管理学院工业工程系,天津300072

出　　处：《数理统计与管理》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(70372062);教育部新世纪优秀人才支持计划(NCET-04-0240)

年　　份：2007

卷　　号：26

期　　号：1

起止页码：96-100

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CSSCI、CSSCI2006_2007、JST、NSSD、RCCSE、RWSKHX、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：常规控制图应用的基本假设是从过程得到的测量值彼此独立,但许多连续型的制造业生产过程(例如化学和制药)往往存在自相关,此时常规控制图容易虚发警报。基于数据的样本自相关函数,本文改进了常规控制图的控制界限,使之适用于自相关过程,并运用常规X-s控制图和本文修正的X控制图对一个实际案例进行了比较分析,结果表明本文修正的X控制图可正确地判断过程是否处于受控状态。

关 键 词：自相关 控制图 控制界限  方差  

分 类 号：F406.2]