文献类型：期刊文章

作　　者：王家君[1] 张德林[1] 朱清玮[1] 王世荣[1] 吴燕婕[2] 熊柏青[1] 崔舜[1] 林晨光[1]

机构地区：[1]北京有色金属研究总院粉末冶金及特种材料研究所,北京100088 [2]中国科学院化学所高分子物理与化学重点实验室,北京100080

出　　处：《稀有金属》

基　　金：北京有色金属研究总院技术创新基金

年　　份：2006

卷　　号：30

期　　号：6

起止页码：846-849

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：利用显微光谱、X荧光光谱、光电子能谱、色泽分析和场发射电子扫描显微分析,对凹印用铜金粉的表面理化性能进行了研究,结果表明,国产铜金粉的表面锌含量明显偏低,Cu(1)与Cu(0)的比例与进口铜金粉之间也存在差异;从而导致其反射光谱、表面理化性质方面与进口铜金粉存在显著差别,宏观上表现为国产和进口铜金粉的色泽存在差异,揭示了国产铜金粉与进口铜金粉品质差距的主要原因。

关 键 词：铜金粉  色泽 反射光谱 表面理化性质  

分 类 号：TF146.1]