文献类型：期刊文章

作　　者：王梦遥[1] 潘炜[1] 罗斌[1] 张伟利[1] 邹喜华[1] 熊悦[1]

机构地区：[1]西南交通大学信息科学与技术学院光通信与光器件研究所,四川成都610031

出　　处：《应用基础与工程科学学报》

基　　金：国家自然科学基金(No.1017405790201011);教育部科学技术研究重点项目(No.105148);四川省应用基础研究项目(No.03JY029-048-1);西南交通大学科学研究基金(No.2001B11)资助项目

年　　份：2006

卷　　号：14

期　　号：4

起止页码：590-596

语　　种：中文

收录情况：CSCD、CSCD_E2011_2012、EI(收录号：20070710427983)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：提出用电路模型实验的方法对铁电液晶基相位编码系统进行材料参量设计.建立了编码系统中关于相位分析的铁电液晶电路模型.以铁电液晶材料的典型参数(自发极化强度、转动粘滞系数以及液晶薄膜厚度)为参变量,给出了稳态方位角(表征外加电场引起的铁电液晶折射率变化)与各参变量间的依赖关系,以及各参变量对调制速率的影响.实验结果表明:调制速率随自发极化强度的提高而增加,随转动粘滞系数、液晶薄膜厚度的提高而减慢.控制自发极化强度取值大于38nC/cm3,转动粘滞系数小于210mPa.s,液晶薄膜厚度小于24μm可使稳态方位角满足基于相位编码系统提出的参考值.

关 键 词：铁电液晶 相位编码 电路模型 自发极化强度:转动粘滞系数  

分 类 号：TN873] O48]