文献类型：期刊文章

作　　者：苏琼[1] 刁立军[2] 李贵群[2] 程建平[1]

机构地区：[1]清华大学工程物理系核技术研究所,北京100084 [2]中国原子能科学研究院,北京102413

出　　处：《核技术》

年　　份：2006

卷　　号：29

期　　号：12

起止页码：941-953

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：本文详实地揭示了在高分辨Geγ谱仪效率刻度方法及其样品分析应用中一个长期以来未为谱学工作者发觉和认识的误区。通过实验及物理数学推导方法,阐述了当选用92.6keV特征γ射线分析天然样品中U-238活度时,是外源性特征X射线干扰的存在及影响其变化的多因素不确定性导致了准确测定天然样品中U-238活度的困难,并导致分析结果中含有难于预测的系统误差,故而文中建议摒弃该方法。文中注意到本文报告的误区在既往某些工作中遗留的影响,建议运用相关数据时应十分谨慎,如果可能,应设法重新测定。

关 键 词：系统误差  效率刻度 X射线 干扰辐射  Γ谱仪 U-238  

分 类 号：O615.2]