期刊文章详细信息
高分辨等离子体质谱法直接测定高纯镓中的痕量元素 ( EI收录 SCI收录)
Direct Determination of Trace Elements in High Purity Gallium by High Resolution-Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]湖南工学院化工系,衡阳421008 [2]中南大学化学化工学院应化系,长沙410083
基 金:湖南省自然科学基金(No.05JJ40017);湖南省教育厅优秀青年科研基金(No.05B064)资助项目
年 份:2006
卷 号:34
期 号:11
起止页码:1570-1574
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EBSCO、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCI(收录号:WOS:000244672100012)、SCI-EXPANDED(收录号:WOS:000244672100012)、SCIE、SCOPUS、UPD、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:建立高分辨电感耦合等离子体质谱法(HR-ICP.MS)测定高纯镓样品中Be、Mg、Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、cu、zn、Ge、As、Mo、Ag、Cd、In、Sb、Ba、Ph、Bi等痕量元素的方法。样品用HNO,+HCl经微波消解后,试液直接进样用HR-ICP-MS法同时测定上述元素,在高分辨质谱测量模式下避免了大量的质谱干扰。详细地研究了HCl和高纯镓所产生的基体效应,以Sc、Rh、Tl作为内标元素校正了基体效应.讨论和确定了实验的最佳测定条件。结果表明,23种痕量元素的检出限在0.001.0.21μg/L之间;回收率在89.8%~111.6%之间,相对标准偏差(RSD)小于3.3%。
关 键 词:高分辨电感耦合等离子体质谱 高纯镓 痕量元素 质谱干扰 基体效应 内标
分 类 号:O657.63]
参考文献:
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耦合文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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