登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

基于LabVIEW的宽光谱膜厚监控系统的研制    

Study on optical film thickness monitoring system by wideband spectrum based on LabVIEW

  

文献类型:期刊文章

作  者:王巧彬[1] 任豪[1] 罗宇强[1]

机构地区:[1]广州市光机电工程研究开发中心广东省现代控制与光机电技术公共实验室,广东广州510635

出  处:《光学仪器》

年  份:2006

卷  号:28

期  号:5

起止页码:66-70

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:介绍了一种基于LabV IEW的光学镀膜宽光谱综合监控系统。阐述了光学镀膜宽光谱监控的原理和高级图像编程语言(LabV IEW)在此系统中的应用;监控系统可以用于光学薄膜在线实时监控和光学薄膜的光谱特性检测。

关 键 词:光学薄膜 宽光谱 膜厚监控 光谱特性 LABVIEW

分 类 号:O484.5]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心