登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

ITO粉的Rietveld全谱图拟合定量相分析    

Rietveld Full- profile Quantification Analysis of the ITO

  

文献类型:期刊文章

作  者:何维[1] 农亮勤[2] 曾令民[1,2]

机构地区:[1]广西大学物理科学与工程技术学院,广西南宁530004 [2]广西民族大学电子与通信工程学院,广西南宁530006

出  处:《中国材料科技与设备》

基  金:广西自然科学基金资助项目(0448021)

年  份:2006

卷  号:3

期  号:6

起止页码:51-53

语  种:中文

收录情况:内刊、普通刊

摘  要:对ITO粉样品用Rietveld全谱图拟合法进行了定量相分析,该样品由立方晶型的In2O3和少量的四方晶系的SnO2所组成。In2O3和SnO2质量百分含量分别为94.23%和5.77%。结果表明,用Rietveld法进行了定量相分析是非常有效和准确的。

关 键 词:ITO粉  定量相分析 Rietveld法  

分 类 号:TB303[材料类]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心