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期刊文章详细信息

用全息摄影术测量XLPE高压电缆绝缘中杂质颗粒的研究  ( EI收录)  

Size Determination of Contaminants in HV XLPE Cable Insulation with Holographic Technique

  

文献类型:期刊文章

作  者:赵洪[1] 胡柱国[2] 屠德民[2] 刘子玉[2] 刘露萍[3] 滕维钧[3]

机构地区:[1]哈尔滨电工学院 [2]西安交通大学 [3]沈阳电缆厂

出  处:《电工技术学报》

年  份:1990

卷  号:5

期  号:3

起止页码:56-61

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX1992、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:应用Fraunhofer全息技术发展了一种测量交联聚乙烯(XLPE)电缆绝缘中杂质颗粒的方法。通过对被硅油加热透明的电缆绝缘内杂质颗粒的全息记录、全息图再现,可测得4.0cm长,任意大直径的一段交联电缆绝缘内的杂质颗粒。新方法比起传统的显微镜下切片测量法大大地增加了测量体积,使抽样检查的样本数增加,提高了测得结果的统计学可信度。该方法获得全场内50μm的分辨力和优于8%的精度。本文对新方法的原理进行了描述,实验结果进行了介绍,并进行了验证性对比实验。

关 键 词:全息照相 电缆 绝缘 交联聚乙稀  

分 类 号:TM247.106[材料类]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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