文献类型：期刊文章

作　　者：张华[1] 冯夏[1] 康俊勇[1]

机构地区：[1]厦门大学物理系半导体光子学研究中心,福建厦门361005

出　　处：《发光学报》

基　　金：国家自然科学基金(60376015,90206030,60336020,10134030);国家"973"计划(001CB610505);福建省科技项目(2004H054,E0410007)资助项目~~

年　　份：2006

卷　　号：27

期　　号：5

起止页码：750-754

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：采用局域密度泛函理论和第一性原理的方法,计算四方结构和六角结构硅酸锌的平衡晶格常数、电子态密度和能带结构。计算结果表明,四方结构硅酸锌的平衡晶格常数为0.71048nm,六角结构为1.40877nm,两者与实验值的误差均在1%左右。态密度图显示,主要电子态分布在-7.18～0.00eV和2.79～10.50eV两个能量区域;同时,不同元素电子对导带和价带有不同贡献,其中氧的p态电子对价带顶贡献最大,锌的s态电子对导带底贡献最大。能带计算表明,四方与六角结构硅酸锌均为直接带隙半导体,禁带宽度分别为2.66,2.89eV。

关 键 词：硅酸锌 电子态密度 能带结构  

分 类 号：O471.5]