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期刊文章详细信息

一种RAM自检的新方法    

A New Way on RAM Self-checking

  

文献类型:期刊文章

作  者:陈卫兵[1] 陈键[2]

机构地区:[1]阜阳师范学院物理系,安徽阜阳236041 [2]安徽电子信息职业技术学院计算机系,安徽蚌埠233000

出  处:《工业控制计算机》

年  份:2006

卷  号:19

期  号:9

起止页码:69-69

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:在各种单片机应用系统中,RAM与该应用系统的正常工作紧密相关,RAM的自检可有效地避免RAM不正常工作给系统带来的损害。介绍了RAM的自检的一般方法并且给出了一种新的自检方法。

关 键 词:单片机 自检  RAM

分 类 号:TP368.1]

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同被引文献:

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