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期刊文章详细信息

基于IEEE Std 1149.1-2001标准的TAP控制器设计    

A Design of Testable TAP Controller Based on IEEE Std 1149.1-2001

  

文献类型:期刊文章

作  者:陈新武[1] 刘金根[2]

机构地区:[1]信阳师范学院物理电子工程学院 [2]上海移动通信有限责任公司,上海200134

出  处:《信阳师范学院学报(自然科学版)》

基  金:国家自然科学基金项目(90207020)

年  份:2006

卷  号:19

期  号:4

起止页码:452-454

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAB、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、IC、JST、RCCSE、WOS、ZGKJHX、ZMATH、ZR、核心刊

摘  要:在边界扫描协议的实现过程中,TAP控制器的地位比较突出,是非常重要的一块.本文从协议要求出发,使用Verilog-XL对TAP控制器进行逻辑仿真,并用Design Comp iler进行逻辑综合,得到了符合要求的电路.基于IP设计技术,给本电路增加了扫描链,可以作为一个IP软核应用于集成电路的可测试性设计.

关 键 词:边界扫描  IEEE STD 1149.1-2001  TAP控制器  Verilog-XL  IP核

分 类 号:TN407]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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