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期刊文章详细信息

亚像素条纹边缘提取技术在型面测量上的应用  ( EI收录)  

The technique of sub-pixel stripes distinguish on the surface measurement

  

文献类型:期刊文章

作  者:陈石平[1] 毕娅[2] 李晓星[1] 周贤宾[1]

机构地区:[1]北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京100083 [2]武汉经济学院经济信息系,武汉430205

出  处:《北京航空航天大学学报》

年  份:2006

卷  号:32

期  号:8

起止页码:979-982

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:三维型面非接触测量在工业领域有着广泛的应用前景.双目视觉是一种有效获取三维轮廓信息的方法,其中对大密度的黑白相间条纹进行精确定位和提取,是基于投影光栅图像的光学三维型面测量的关键技术和难点.利用空间编码技术将被测空间划分为若干区域,每个区域对应一个二进制码.条纹落在区域上与唯一的二进制码相对应,就可以对条纹精确定位.利用边缘提取算法获得像素级条纹后,再利用亚像素技术可以进一步对条纹进行高精度提取.介绍了基于灰度矩的和基于多项式拟合的亚像素边缘检测算法.将空间编码和亚像素条纹提取技术相结合,对光栅条纹进行亚像素级定位和提取的技术,与像素级的定位技术相比,能提高图像的定位精度,有效地改善测量系统的性能.

关 键 词:型面测量  空间编码  亚像素提取  

分 类 号:TP391]

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同被引文献:

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