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期刊文章详细信息

基于系统隐藏寿命数据的串联系统可靠性估计(英文)    

Reliability Estimation of Series System Based on Masked System Life Data

  

文献类型:期刊文章

作  者:雷小平[1] 蔡静[1] 赵明[1]

机构地区:[1]贵州大学工业经济工程研究所,贵州贵阳550025

出  处:《贵州大学学报(自然科学版)》

年  份:2006

卷  号:23

期  号:3

起止页码:245-248

语  种:中文

收录情况:ZGKJHX、普通刊

摘  要:作者提出了一种估计串联系统可靠性的新的方法.该方法综合运用了系统水平和元件水平的部分数据.众所周知,一个串联系统的可靠度等于所有元件可靠度的乘积.为了精确估计所有元件的可靠度,我们必须充分利用所有测试数据信息.但是,由于在系统水平的数据中存在一些隐藏数据,我们必须通过一种EM算法来计算以系统水平测试数据为条件的元件的失效概率.另外,作者还提出了一个研究案例.

关 键 词:串联系统  可靠性 隐藏数据  EM算法

分 类 号:O213.2]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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