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孪生对靶直流磁控溅射制备ZnO:Al薄膜及其特性研究 ( EI收录)
Physical Properties of ZnO:Al Films by DC Magnetron Sputtering with Facing Targets
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]南开大学光电子薄膜器件与技术研究所,天津300071 [2]天津市光电子薄膜器件与技术重点实验室,天津300071
基 金:国家863计划项目(No.2004AA513020)
年 份:2006
卷 号:35
期 号:4
起止页码:761-764
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:本文以ZnO:A l(ZAO)陶瓷为靶材,采用孪生对靶直流磁控溅射工艺在玻璃衬底上制备出高质量的铝掺杂氧化锌透明导电膜,研究了该薄膜的结构、光电及力学特性。采用孪生对靶制备ZAO薄膜可使样品避开等离子体直接轰击,减少基底薄膜的损伤。制备的薄膜具有结晶程度高、电阻率低、迁移率高等优点。ZAO薄膜的最低电阻率达到了4.47×10-4Ω.cm,在可见光区的平均透过率达到85%以上,非常适合做为铜铟硒(C IS)薄膜太阳电池窗口层。
关 键 词:孪生对靶 磁控溅射 ZNO:AL
分 类 号:TM615]
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