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期刊文章详细信息

氢对GaAs薄膜的钝化作用  ( EI收录)  

Hydrogen Passivation Effect on GaAs Thin Films

  

文献类型:期刊文章

作  者:朱慧群[1] 丁瑞钦[1] 胡怡[2]

机构地区:[1]五邑大学薄膜与纳米材料研究所,广东江门529020 [2]暨南大学化学系,广州510632

出  处:《光子学报》

基  金:广东省自然科学基金(04011770);广东省江门市科技计划基金(江财企[2003]61号)资助项目

年  份:2006

卷  号:35

期  号:8

起止页码:1194-1198

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20064210187831)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:报导了射频磁控溅射与沉积气氛掺氢相结合制备单层(13~20nm厚)高质量GaAs多晶态纳米薄膜的方法,研究了氢钝化对薄膜微观结构及光学性质的影响。对GaAs薄膜进行了X射线衍射、原子力显微镜、吸收光谱、光致荧光谱的研究分析.结果表明,衬底温度500℃的掺氢薄膜和520℃的薄膜呈面心立方闪锌矿结构,薄膜的晶团尺寸较大,微观表面较为粗糙,其吸收光谱出现了吸收边蓝移和明显的激子峰,带隙光致荧光峰强明显增加,说明氢在衬底温度500℃~520℃下对薄膜有重要的钝化作用。

关 键 词:射频磁控溅射 GaAs薄膜  氢钝化  激子峰  光致荧光谱  

分 类 号:O472.3] TB383[物理学类]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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