文献类型：期刊文章

作　　者：李南京[1] 张麟兮[1] 许家栋[1] 叶秀南[1] 李萍[1]

机构地区：[1]西北工业大学国防科技研究院,西安710072

出　　处：《现代雷达》

年　　份：2006

卷　　号：28

期　　号：8

起止页码：70-73

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、IC、JST、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：传统的微波暗室远场雷达散射截面积(RCS)测量方法是采用点频测试,对低RCS目标,测试系统中需添置对消系统,使暗室背景再下降20 dB以上,才能更准确地检测目标。该方案的缺陷是被测件正后方的暗室后墙反射产生阴影,无法进行对消,而且往往对消系统稳定性较差。文中提出的另一种方法,即RCS的扫频测试方法,通过适当的设置,可得到非常高的精度,而且测试系统简单,省去了复杂的手工暗室对消系统,信息量大。

关 键 词：点频测试  对消系统  傅里叶变换 时域测量 雷达散射截面积

分 类 号：TN953]