文献类型：期刊文章

作　　者：王华[1] 苏显渝[2]

机构地区：[1]重庆师范大学物理学与信息技术系,重庆400047 [2]四川大学电子信息学院,成都610064

出　　处：《激光杂志》

基　　金：国家自然科学基金资助(60177001)

年　　份：2006

卷　　号：27

期　　号：4

起止页码：49-50

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：向物体投射正交正弦光栅或正弦光栅,都能实现我们提出的高密度全场离焦三维测量,实验发现测量精度依赖于投射模式和物体表面纹理。计算机模拟显示物体深度测量精度与物体纹理的调制度、频率和投射光栅方向有关。对各种纹理,正交正弦光栅投射的测量精度都高于正弦光栅投射的测量精度。在相同实验条件下,正交正弦光栅和正弦光栅投射的弱纹理表面的深度测量均方误差分别为0.18mm和0.25mm,较强纹理表面的均方误差为0.35mm和0.54mm。

关 键 词：离焦三维测量  正弦光栅  正交正统光栅  二维纹理

分 类 号：TN248.1]