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期刊文章详细信息

电子元器件失效分析技术    

电子元器件失效分析技术

  

文献类型:期刊文章

作  者:董均海[1]

机构地区:[1]吉林省电子信息产品监督检验研究院,长春130000

出  处:《现代情报》

年  份:2006

卷  号:26

期  号:4

起止页码:207-208

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2004、JST、NSSD、RCCSE、RWSKHX、ZGKJHX、核心刊

摘  要:本文扼要地介绍了电子元器件失效分析所采用的一些最新技术和仪器设备。

关 键 词:电子元器件 失效分析  

分 类 号:TP211.5]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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