期刊文章详细信息
SoC功能验证的特点和方法
The Feature and Methodology of SoC Functional Verification
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110032
年 份：2006
卷 号：27
期 号：2
起止页码：11-13
语 种：中文
收录情况：ZGKJHX、普通刊
摘 要：简要分析了传统集成电路(ASIC)验证方法的特点以及将这些方法应用于系统级芯片(SoC)验证时所面临的问题。在此基础上,论述说明了模块级验证是提高SoC验证效率的基础;而基于随机测试激励的验证方法能够提升SoC的功能验证的覆盖率。另外,还介绍了用于SoC功能验证的关键方法,包括断言和RTL形式验证,Farm,随机化测试激励和功能覆盖等。
关 键 词：系统级芯片 设计 功能验证 断言 功能测试 随机测试激励
分 类 号：TN406]
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