文献类型：期刊文章

作　　者：彭敏放[1] 何怡刚[1] 沈美娥[2] 贺建飚[3]

机构地区：[1]湖南大学电气与信息工程学院,长沙410082 [2]北京信息工程学院计算机科学与工程系,北京100101 [3]中南大学信息科学与工程学院,长沙410083

出　　处：《电工技术学报》

基　　金：国家自然科学基金(50277010);湖南省自然科学基金(04JJ6034);教育部新世纪优秀人才支持计划(NCET-04-0767);湖南省科技计划(04FJ2003;03GKY3115;05FJ3008)资助项目。

年　　份：2006

卷　　号：21

期　　号：3

起止页码：118-122

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：2006289996223)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：将多目标遗传优化算法与故障屏蔽原理相结合,提出了一种新的容差模拟电路故障屏蔽诊断方法。通过分析计算故障与容差效应对端口特征量的影响,建立了模拟电路具容差情况下的故障屏蔽模型,创建了目标函数与相应的适应值函数,用以搜索能极大限度屏蔽故障支路的最优激励,根据最优激励的Pareto解集及所提隶属度函数来实现故障定位。模拟试验结果表明:所提方法避免了故障效应与容差效应的相互交叠,故障定位准确率高。

关 键 词：故障诊断 遗传算法 多目标优化 故障屏蔽  模拟电路

分 类 号：TM131]