期刊文章详细信息
嵌入式存储器的内建自测试算法及测试验证
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]广州华南理工大学微电子研究所
年 份：2006
卷 号：15
期 号：2
起止页码：77-80
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2PRAM仿真模型对存储器的BIST测试进行了验证,并成功将其应用于一款USB音视频芯片。
关 键 词：嵌入式存储器 测试验证 测试算法 BIST 内建自测试 SOC设计 MARCH 体系结构 仿真模型 SRAM
分 类 号：TP333] TP274[计算机类]
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