期刊文章详细信息
场限制环的安全环距设计原理
The Safety Design Rule of Field Limitting Ring
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]上海大学电子物理研究所
年 份：1996
卷 号：16
期 号：3
起止页码：216-220
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1992、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：场限制环作为一种可与许多器件工艺相容的ＰＮ结终端得到了广泛应用。存在的一个问题是其效果随结构参数有过分敏感的变化。文中认为：作为设计指导思想的最佳环距原则是加重这一敏感性的重要原因。作为改进，提出了新的安全环距设计原则。按安全环距原则设计，除可明显缓解终端效果随结构参数敏感变化的问题外，还可有效地提高在同样结构和工艺条件下所制成器件的额定电压。
关 键 词：场限制环 安全环距 PN结 半导体物理
分 类 号：O475]
参考文献：
正在载入数据...
二级参考文献：
正在载入数据...
耦合文献：
正在载入数据...
引证文献：
正在载入数据...
二级引证文献：
正在载入数据...
同被引文献：
正在载入数据...
