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期刊文章详细信息

测试点优化及故障诊断树生成技术    

Optimal test point selection and diagnosis tree generation technique

  

文献类型:期刊文章

作  者:许斌[1] 周鸣岐[2]

机构地区:[1]北京无线电计量测试研究所,北京100039 [2]北京无线电测量研究所,北京100039

出  处:《国外电子测量技术》

年  份:2006

卷  号:25

期  号:3

起止页码:15-19

语  种:中文

收录情况:JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:文中讨论了基于相关性矩阵的测试点优化方法和故障诊断树的生成方法。在每一项测试所发生的测试费用都相同的条件下,以平均测试费用最优为目标函数的故障诊断树生成问题,可以转化为Huffman编码问题,而采用任何其他方法生成的故障诊断树,其平均测试费用都不是最优的。本文最后用实例对这一问题进行了说明。

关 键 词:相关性矩阵 故障诊断树  HUFFMAN编码 香农熵  

分 类 号:TP277]

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引证文献:

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同被引文献:

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