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期刊文章详细信息

用紫外成像检测绝缘子  ( EI收录)  

Detecting Insulator by UVImaging

  

文献类型:期刊文章

作  者:迟殿林[1] 曾庆立[2] 孙立时[2]

机构地区:[1]沈阳供电公司,沈阳110003 [2]东北电力科学研究院,沈阳110006

出  处:《高电压技术》

年  份:2006

卷  号:32

期  号:2

起止页码:115-116

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:介绍了沈阳供电公司应用紫外成像仪检测绝缘子绝缘状况的技术,该仪器可由电晕放电产生紫外光的强弱、放电频率判断绝缘子绝缘状况。举例说明了用紫外成像检测绝缘子的效果。探讨了紫外成像检测绝缘子的检测方法,阐述了检测绝缘子对电网安全运行的重要性。

关 键 词:紫外成像检测 绝缘子 绝缘 电晕放电

分 类 号:TM216[材料类]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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