期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]西北电讯工程学院技术物理系
年 份:1988
卷 号:9
期 号:2
起止页码:73-77
语 种:中文
收录情况:CAS、JST、ZGKJHX、普通刊
摘 要:本文综述了超高速光电子取样测量技术的发展状况以及它们在超高速半导体电子器件和光电子器件测试中的应用。
关 键 词:取样技术 光电子 应用 微微秒 半导体电子器件 器件测试 超高速
分 类 号:TN201] P618.13]
参考文献:
正在载入数据...
二级参考文献:
正在载入数据...
耦合文献:
正在载入数据...
引证文献:
正在载入数据...
二级引证文献:
正在载入数据...
同被引文献:
正在载入数据...