期刊文章详细信息
用Z-80单板机控制激光测微仪自动检测
Autocontral measurement of laser micrometer controlled by a Z-80 single board computer
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]西北电讯工程学院技术物理系激光教研室
年 份：1988
卷 号：9
期 号：1
起止页码：29-34
语 种：中文
收录情况：CAS、JST、ZGKJHX、普通刊
摘 要：激光测微仪可无接触地测量直径为几微米～几十微米的细丝。在Z-80单板机的控制下,可将一轴成千上万米长的细丝从头至尾进行逐点测量。并将总长和各种超差长度及其所占百分比等数据打印出来,以便评定该轴细丝的质量等级。
关 键 词：单板机控制 激光测微仪 自动检测 数据打印 质量等级 细丝 无接触 微米 测量
分 类 号：TP274] TM921.51]
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