文献类型：期刊文章

作　　者：芦玉峰[1] 堵永国[1] 肖加余[1] 张传禹[1] 张为军[1] 银锐明[1]

机构地区：[1]国防科技大学航天与材料工程学院材料工程与应用化学系,长沙410073

出　　处：《硅酸盐学报》

基　　金：中国高科技研究发展计划("863"计划)(2004AA32G090)资助项目。~~

年　　份：2005

卷　　号：33

期　　号：12

起止页码：1488-1493

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：2006129772393)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：利用X射线衍射技术,提出了一种无需纯晶相作标样,仅根据玻璃相散射峰的强度数据确定微晶玻璃结晶度,然后利用标准卡片上的“参比强度”值计算各晶相含量的方法。采用该方法研究了不同烧结工艺制得的2组BaO Al2O3Si O2系微晶玻璃中各晶相的含量。该方法与Rietveld法测得的结晶度的偏差小于3.2%,测得的各晶相含量的偏差小于2.6%。利用所获得的各晶相质量分数,根据加和法则计算得到微晶玻璃样品的密度,它们与利用Archi medes排水法测得的密度值的相对偏差小于1.8%。提出的方法简便易行,准确性满足材料研究的要求。

关 键 词：微晶玻璃 结晶度 X射线衍射法 Rietveld法  密度  两相模型  

分 类 号：TF77] TG171.1]